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序号	产品名称	型号	详细介绍	产地(国家)	更新日期
1	集成电路测试仪	BJ3125A	BJ3125A 型数字IC测试系统是BJ3125数字IC测试系统的改型产品.采用模块化结构，继承BJ3140（美国GR-1732M）中大规模数字集成电路测试系统的优点而开发出的小型测试系统。<BR>可测试TTL，ECL，CMOS及其它类型中小规模数字IC，如随机逻辑电路、ROM、EPROM、RAM、EPLD。	中国	09-16
2	集成电路测试仪	BJ3190A	本仪器采用辅助放大器的测量方法，是目前国际普遍采用的一种测试方法具有稳定性好，精度高，范围大等特点，可对各种单运放，多运放的常用参数进行测量。参数经内部运算，线形化刻度，电表直读。仪器设有好坏判别可使用"自动"，"手动"选择项目进行测试。	中国	09-16
3	集成电路测试仪	BJ2923	智能晶体管综合参数测试仪是我们精心设计研制的微机控制自动测试仪器，该仪器可以准确测量大，中，小功率晶体管的十个直流参数Iceo，Icbo，Iebo，BVceo，BVebo，Vbe，Vces，Vbes和Hfe，同时还可测试部分二极管，稳压管的漏电流，击穿电压，击穿电流等参数。	中国	09-16
4	半导体管、集成电路测量仪	XJ4810	XJ4810/XJ4810A型半导体管特性图示仪采用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，并测量其静态参数。本仪器具有二簇曲线显示，双向集电极扫描电路，可以对被测半导体器件的特性进行对比分析，便于对管或器件的配对。本仪器IR测量达200nA/div，配备扩展装置后，VC可达3KV；可测试CMOS及TTL门电路传输特性；可对场效应管进行配对或对管测试；可测试三端稳压管特性。	中国	09-16
5	半导体管、集成电路测量仪	XJ4812	用于测量各种半导体管特性曲线和静态参数的测量仪器，是新一代便携式图示仪。整机采用新颖电路设计技术，具备外形轻巧，操作简便，性能稳定可靠，性价比高的特点，能满足大部分半导体器件的测试要求。适合工厂生产线，大专院校教学实验和电子设备维修等领域使用。	中国	09-16
6	半导体管、集成电路测量仪	XJ4820	CRT读出半导体管特性图示仪用示波管显示半导体器件的各种特性曲线，以数字字符显示测试档级及用光标测试被测器件的各种直流参数，从而减少了读数误差，提高了测量精度。本仪器室新一代智能化的测量仪器。	中国	09-16
7	半导体管、集成电路测量仪	XJ4822	CRT读出图示仪，外观新颖，技术先进，操作方便，能对各类二级管，三机管，场效应管等静态参数测试。光标测量数字读出给用户带来方便，二簇曲线显示对器件各类参数配对尤为方便。测试大功率器件时，可采用单次方式。配3KV测试台后Vc可达3KV。	中国	09-16
8	集成电路测试仪	BJ3197	BJ3197该仪器不仅能对国内生产的圆型，双列直插型，表面安装型的单，双，四运放以及电压比较器进行合格/不合格测试和分类测试，还能记录参数数据，不仅能测试直流参数，还能进行交流参数的测试。	中国	09-16