平面平晶平面平晶,φ150-仪器仪表选型网

序号	产品名称	型号	详细介绍	产地(国家)	更新日期
1	平行平晶	Φ0-25	·用于对千分尺测量面的平行度和平面度进行检测。<br>·每组包括4种厚度。<br>·平面度：0.1μm(.000004")<br>·平行度：0.2μm(.000008")<br>·平行平晶直径：30mm(1.19")<br>·带有配套的携带箱。	中国	11-08
2	平行平晶	Φ25-50	·用于对千分尺测量面的平行度和平面度进行检测。<br>·每组包括4种厚度。<br>·平面度：0.1μm(.000004")<br>·平行度：0.2μm(.000008")<br>·平行平晶直径：30mm(1.19")<br>·带有配套的携带箱。	中国	11-08
3	平行平晶	Φ50-75	·用于对千分尺测量面的平行度和平面度进行检测。<br>·每组包括4种厚度。<br>·平面度：0.1μm(.000004")<br>·平行度：0.2μm(.000008")<br>·平行平晶直径：30mm(1.19")<br>·带有配套的携带箱。	中国	11-08
4	平行平晶	Φ75-100	·用于对千分尺测量面的平行度和平面度进行检测。<br>·每组包括4种厚度。<br>·平面度：0.1μm(.000004")<br>·平行度：0.2μm(.000008")<br>·平行平晶直径：30mm(1.19")<br>·带有配套的携带箱。	中国	11-08
5	平面平晶	平面平晶,φ100	用于千分尺或量块测量面的平面度进行高精度检测。	中国	11-08
6	平面平晶	平面平晶,φ150	用于千分尺或量块测量面的平面度进行高精度检测。	中国	11-08
7	平面平晶	平面平晶,φ200	用于千分尺或量块测量面的平面度进行高精度检测。	中国	11-08
8	平面平晶	平面平晶,φ30	用于千分尺或量块测量面的平面度进行高精度检测。	中国	11-08
9	平面平晶	平面平晶,φ45	用于千分尺或量块测量面的平面度进行高精度检测。	中国	11-08
10	平面平晶	平面平晶,φ60	用于千分尺或量块测量面的平面度进行高精度检测。	中国	11-08
11	平面平晶	平面平晶,φ80	用于千分尺或量块测量面的平面度进行高精度检测。	中国	11-08

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