SB2204型智能化介质损耗测试仪是一种新颖的测量介质耗损(tgδ)和电容值(Cx)的数显式仪器。用于在共频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容值(Cx)。仪器不仅可以测量两个电极与地绝缘的试品,也可以测量一极接地的试品。与西林电容电桥相比,具有操作简单、使用方便、读数直观、无需换算、抗干扰能力强等优点。
测量范围 |
介质损耗(tgδ):±0~0.3 |
最小测量电流 |
5μA |
输出电压及最大输出电流 |
10kV(100mA)、3kV(333mA)、1kV(500mA) |
输出电压倍率 |
×1、×0.75、×0.5 |
环境温度 |
0~40℃ |
相对湿度 |
30%~80% |
电源电压 |
220V±22V;50±1Hz |
外形尺寸 |
560×320×400mm |
重量 |
≤40kg |
功耗 |
≤15kvA |
测量内容 |
Tgδ范围 |
测量电流(Icx)范围及输出电压 |
工作方式 |
基本误差 |
介质损耗因数(tgδ) |
Tgδ≤0.1 |
20μA≤Icx≤500m,
输出电压>1kV |
正接线法 |
±(1%读数+0.008) |
反接线法 |
±(1%读数+0.0015) |
10μA≤Icx<20μA,
输出电压>1kV |
正接线法 |
±(2%读数+0.0015) |
反接线法 |
±(2%读数+0.0025) |
5μA≤Icx<10μA,
输出电压≤1kV |
正接线法
反接线法 |
0.1<Tgδ≤0.1 |
20μA≤Icx≤500mA |
电容 |
0≤Tgδ≤0.1 |
5μA≤Icx≤500mA |
±(2%读数+1.5PF) |
|