X-3600是一种体现X射线荧光分析技术进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。需要多元素同时分析的地方， 正是它大有作为之处。

仪器检测能力强，分辨率高，适用于各行业对不同元素进行无损检测。在不同工作环境下分析范围从Al（13号元素）到U（92号元素）。无损分析迅速，无需制样，测试时间从几秒到几分钟可调。检测精度从PPM级别到千分之一级别。

技术参数：

外型尺寸：600mm×530mm×330mm

可测试样品大小：关仓测量：220mm×200mm×150mm

开仓测量：无限大

仪器重量：50公斤

工作环境温度：0——35℃

工作环境相对湿度：≤80%

元素分析范围：铝（Al）——铀（U）

含量分析范围：1PPM——99.999%

测量时间:10——180秒可调

激发源：低功率X射线管

高压电源：美国Spellman原装进口高压电源

探测器：美国Amptek原装进口电制冷Si-Pin半导体探测器

仪器分辨率：55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线，分辨率优于149eV

多道分析器：2048道

软件：基于WINDOWS的强大工作软件

客户可进行二次开发，自行开发任意多个分析方法

工作电源：交流 220V 50Hz

主要特点：

基本参数法对从铝（13号元素）至铀（92号元素）定性分析测量。

包裹样品检测辨别系统。

样品室高清成像定位系统，方便微小样品定位测量。

电制冷与内部双向循环冷却恒温系统相结合，维持内部工作环境稳定。

内部动力学风道设计，快速排出多余热量。

双峰位快速自动校准。

双箱体结构，抗干扰能力强且方便硬件升级。

仪器工作方法任意开发。

定量分析：包括经验系数法，理论a系数法和基本参数法。

定性分析：包括Kl谱线标记法，谱图比较法，光标自动寻峰等。

测试报表根据客户要求独立设计。